------儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說(shuō)明書里面。 
------為了進(jìn)一步增強(qiáng)儀器的適應(yīng)性，儀器的電壓設(shè)置可以以50V為步長(zhǎng)來(lái)設(shè)置所需要的電壓，這樣就不需要進(jìn)行低電壓測(cè)試的時(shí)候需要另外購(gòu)買儀器來(lái)進(jìn)行測(cè)試。
------儀器的IR功能設(shè)置使儀器能符合zui高的安全標(biāo)準(zhǔn)和達(dá)到EN61010標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)儀器測(cè)試電壓高于50V的時(shí)候，儀器就會(huì)顯示高壓警告。在測(cè)試完成后，儀器電壓自動(dòng)降為0，其內(nèi)的放電回路自動(dòng)放電。
------本儀器非常適合IR，PI，DAR，SV和DD等參數(shù)的測(cè)量，符合常規(guī)檢測(cè)和診斷的要求。 
儀器規(guī)格
輸入電壓：95-240 V 50Hz 
S1-554 電池壽命：在5 kV測(cè)試電壓下連續(xù)工作6小時(shí) 
S1-1054 電池壽命：在10 kV測(cè)試電壓下連續(xù)工作4小時(shí) 
S1-554 測(cè)試電壓：50 V 到 1 kV 以10V為步進(jìn)電壓, 1 kV 到 5 kV 以25V為步進(jìn)電壓 
S1-1054 測(cè)試電壓：50 V 到 1 kV 以10V為步進(jìn)電壓, 1 kV 到 10 kV 以25V為步進(jìn)電壓 
*度 （23°C）：±5% 在 1 TΩ范圍內(nèi) 
±20% 在 10 TΩ范圍內(nèi)（S1-554） 
在 20 TΩ范圍內(nèi)（S1-1054） 
輸出電流：5 mA 
S1-554 充電時(shí)間：在 5mA / 5 kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤ 1.5 s / μF 
S1-1054 充電時(shí)間：在 5mA / 10 kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤ 3 s / μF 
S1-554 放電時(shí)間：放電從 5000 V 到 50 V時(shí)間為≤ 120ms/μF 
S1-1054 放電時(shí)間：放電從10000 V 到 50 V≤ 250ms/μF 
電容測(cè)量：10 nF 到 50 μF （取決于測(cè)試電壓） 
電容測(cè)量*度（23°C）：±5% ±5 nF 
電壓輸出*度 （0°C 到 30°C）：+4% ±10 V of nominal test voltage at 1 GΩ load 
±25 V for test voltages less than 500 V 
電流測(cè)試范圍：0.01 nA 到 5 mA 
電流測(cè)試*度（23°C）：±5% ±0.2 nA 
顯示：3位數(shù)字/模擬顯示 
抗干擾：4mA rms @ 200 V 
定時(shí)器范圍：zui高定時(shí)間99:59 
內(nèi)存容量：32kB 
其他測(cè)試性能：IR、 PI、 DAR、SV 、 DD. 
傳輸接口：RS232 和 USB 
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：電壓，測(cè)試時(shí)間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD 
實(shí)時(shí)輸出：能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗 
尺寸：305 x 194 x 360 mm 
重量：7.1 kg